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銷售美國.J.A.Woollam的M-2000 光譜型橢偏儀

  • 產品型號:
  • 更新時間:2024-06-18

簡要描述:銷售美國.J.A.Woollam的M-2000 光譜型橢偏儀

產品詳情

銷售美國.J.A.Woollam的M-2000 光譜型橢偏儀

無論是科研還是工業生產,M-2000都可以滿足您的需求,多樣的配置選項滿足不同用戶的要求。旋轉補償*技術保證Delta的準確測量,CCD列陣的使用使全光譜掃描可在幾秒中內完成。

 

可選光譜范圍:


V型 370-1000nm
U型 245-1000nm
D型 193-1000nm
紅外擴展 1000-1700nm

 

可選變角:

 

手動連續可變

自動連續可變

 


特殊微光斑選件:

 

25×60微米
 

M-2000 光譜型橢偏儀
無論是科研還是工業生產,M-2000都可以滿足您的需求,多樣的配置選項滿足不同用戶的要求。旋轉補償*技術保證Delta的準確測量,CCD列陣的使用使全光譜掃描可在幾秒中內完成。
Alpha-SE 光譜型橢偏儀
α-SE是一款高性價比的光譜型橢偏儀。簡約設計,理想的薄膜分析工具。計算機通過USB口控制儀器、數據采集。配置易用的數據分析軟件 易于使用 帶有高級選項的按鈕式操作 軟件技術* 基于旋轉補償*技術 高速測量 十秒內完成180個波長的測量及數據的擬合 功能強 提供厚度、光學常數、表面粗糙、界面層等 各種數據 應用范圍 適用于各類可見光譜段薄膜的研究及日常工藝控制
V-VASE 光譜型橢偏儀
V-VASE是一款經典的自動可變角,單色儀分光的光譜橢偏儀??蓱糜诎雽w、電介質、聚合物、金屬、等各類薄膜的研究和分析。自動相位延遲技術保證了測量準確性,*的工藝保證了測試重復性。具有靈活多變測試功能的V-VASE可用于各類研究中。
IR-VASE 光譜型橢偏儀
IR-VASE可應用于紅外材料光學特性的測量及分析,IR-VASE在半導體上可應用于摻雜濃度的測量。超寬光譜適合各種紅外材料,旋轉補償技術保證測試數據的準確性。IR-VASE是紅外橢偏儀中的*產品。
VUV-VASE 光譜型橢偏儀
UVV-VASE是一款真空紫外橢偏儀,通常用來測量及研究薄膜的紫外光學特性,如光刻膠等。
T-solar 光譜型橢偏儀
T-Solar是為光伏行業量身定制的一款光譜橢偏儀,無論是硅電池(絨面)還是薄膜電池,都可以用T-Solar來測量。T-Solar基于M-2000,是M-2000的一個特殊配置版。
 

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