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3-036-R001型SF6氣體綜合分析儀

  • 產品型號:
  • 更新時間:2024-06-16

簡要描述:測量SF6氣體的微水,純度和雜質
.離子遷移光譜計(IMS),測量SF6氣體中的微量雜質

產品詳情
3-036-R001型SF6氣體綜合分析儀功能
.測量SF6氣體的微水,純度和雜質
.離子遷移光譜計(IMS),測量SF6氣體中的微量雜質
.百分比測量,確定SF6氣體中的空氣含量
.濕度測量,確定SF6氣體中的微水含量
3-036-R001型SF6氣體綜合分析儀配置
--操作方便的旋鈕,雙鍵和顯示屏。
--當超過設定限值時直接指示。
--幾個測量點的記憶(測量點可以任何名字存儲)。
--CD-ROM軟件可向PC機傳送數據并評估測量值。
--2米和4米長的氣體軟管,帶DN8和DN20自封接頭。
--自封連接件。
--殼體帶把手,便于運輸和放置。
--2米長電源線。
--串行電纜。
--與分析儀氣體回收系統相連的接口。
--鋁質手提箱。
技術規格
IMS(雜質)測量范圍: 0-5000 ppm
測量精度: ±100 ppm 
氣體濕度測量范圍: -45 - +10°C(露點)
氣體濕度測量精度: ±4°C
氣體百分比測量范圍: 0-100 Vol % SF6 
氣體百分比測量精度: ±1%(基于SF6-N2混合氣體)
入口壓力: Pe 0.5-14 bar
流量: 約33 升/小時(三種模式一起)
測量時間: 約5分鐘
功能描述
SF6氣體分析儀主要用于控制SF6斷路器及SF6組合電器中的SF6氣體質量。

該分析儀在使用一個氣體接口情況下可以同時測量SF6氣體中的雜質(分解產物總量),SF6-空氣或SF6-N2混合氣體中的SF6氣體純度及SF6氣體的微水含量。

采用IMS模塊,通過測量一個電場中的離子遷移時間來探測SF6氣體中的雜質。根據產生的離子化氣體的遷移性,SF6氣體中的雜質總量能顯示出來。

SF6氣體百分比含量的測量的基于對SF6氣體聲速的評估。濕度測量以露點(°C )來反映SF6氣體中的微水含量,也能以ppm顯示。

所有測量在常壓下進行。

通過使用顯示屏可以方便而快速的進行測量。一個旋鈕和兩個鍵就可以操作儀器了。一旦有分解產物雜質存在,立即發出聲光報警。

根據CIGRE標準預置了報警的解除,操作者可以調整。

測量值能和存儲,隨供的軟件可以傳送數據并在PC機上進行評估。以前的純SF6氣體的標準值能隨每個測量值一起存儲,每天一次,確保測量值與純SF6氣體的直接比較。

分析儀可以連在B151R01型分析儀氣體回收系統上,確保測量過程中沒有SF6氣體排放到大氣中。

 

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